檢測(cè)要求：
1.視野50mm,一次檢測(cè)1個(gè)產(chǎn)品。
2.檢測(cè)內(nèi)容：檢測(cè)電路板上，芯片位置以及引腳位置是否正確。
3.檢測(cè)速度：0.5S/PCS以內(nèi)。
SOLUTION
解決方案
VC電路IC檢測(cè)
訪問(wèn)量：
上一個(gè) :
CCD對(duì)位系統(tǒng)
下一個(gè) :
條碼識(shí)別視覺(jué)系統(tǒng)
上一個(gè) :
CCD對(duì)位系統(tǒng)
下一個(gè) :
條碼識(shí)別視覺(jué)系統(tǒng)
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